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Génération automatique de tests à partir de spécifications de structures de données bornées

Génération automatique de tests à partir de spécifications de structures de données bornées

Arnould A., Marre B., Le Gall P.
Technique et science informatique, Volume 18, n°3 - Mars 1999
Nous présentons un prototype pour la génération automatique de tests à partir de spécifications de structures de données bornées. Notre prototype repose sur des fondations formelles issues des spécifications. La portée de la vérification du test peut ainsi être qualitativement évaluée. Ce prototype automatise la pratique du test, en particulier les tests de robustesse aux limites. Il permet donc d'augmenter la qualité de la vérification, et surtout de diminuer son coût. Nous avons utilisé les techniques de programmation logique avec contraintes. Nous montrons que ces techniques sont suffisamment efficaces pour générer des tests atteignant des limites réelles. MOTS-CLES : test de robustesse, test aux bornes, structures de données bornées, génération automatique de tests, programmation logique avec contraintes.

BibTex references

@Article{AML1999_25,
author = {Arnould, A. and Marre, B. and Le Gall, P.},
title = {G\'en\'eration automatique de tests \`a partir de sp\'ecifications de structures de donn\'ees born\'ees.},
month = {Mars},
year = {1999},
note = {Technique et science informatique, Volume 18, n°3},
}